Série LX – nouvelles caméras CMOS haute résolution avec jusqu'à 20 mégapixels et Dual GigE

Baumer: Avec la série LX, Baumer enrichit sa gamme de caméras avec capteurs CMOSIS haute résolution et interface Dual GigE. Disponibles en juin prochain, les premiers modèles peuvent être utilisés pour des applications nécessitant à la fois une précision de l'acquisition d'images et un débit élevés. La nouvelle série LX tient compte de ces exigences en proposant des résolutions de 8, 12 et 20 mégapixels et une bande passante de l'interface Dual GigE de 240 MB/s.

Les modèles à 8 et 12 mégapixels utilisent le design de pixel de 5,5 µm CMOSIS qui connaît un grand succès. Une mise à niveau facile des systèmes CCD existants sur les caméras de la série LX avec une très grande sensibilité et une cadence élevée est donc possible. Cela évite d'avoir à investir dans de nouveaux systèmes optiques. La version à 20 mégapixels est basée sur une structure de pixels de 6,4 µm et propose, en plus d'une résolution encore accrue, un très faible niveau de bruit de seulement 8 e- ainsi qu'une dynamique élevée de 66 dB. Cette excellente qualité d'image accroît la précision et la fiabilité de l’inspection. Tous les modèles disposent d'une remarquable sensibilité pour détecter avec certitude les procédés même très rapides.

L'interface Dual GigE, conforme à la norme, de la caméra GigE Vision à 20 mégapixels actuellement la plus petite permet une intégration économique au système. La bande passante de 240 MB/s permet de doubler la cadence ou de diviser par deux la durée de transmission par rapport aux caméras GigE simples. Dans certaines applications, le temps de réaction ou la durée de contrôle peut ainsi être considérablement réduit. La série LX offre une flexibilité supplémentaire grâce à des fonctions telles que HDR (High Dynamic Range), Power over Ethernet (PoE) et Multi/IO et à un raccord d'objectif modulaire.

Les caméras sont parfaitement adaptées à des applications exigeantes telles que l'inspection de circuits imprimés, de semi-conducteurs ou de surfaces et la technique de mesure en 2D/3D.